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SZM-045数码体视显微镜 工具痕迹检验鉴定设备
  • 所属类别:显微镜
  • 产品型号:SZM-045
  • 产品名称:SZM-045数码体视显微镜 工具痕迹检验鉴定设备
  • 规格型号:立体显微镜
  • 产品价格:¥10000
  • 浏览次数:4916
  • 发布时间:2015/06/02
  • 17.6K

  • 刑侦产品介绍

数码体视显微镜 — 立体显微观察设备、工具痕迹检验装备、数码取证记录系统

1. 产品概述
本数码体视显微镜是一款集成了传统立体光学显微观察与高清数字图像采集功能的综合性检验设备。其设计旨在为刑事技术领域,特别是工具痕迹、文件检验及微量物证的检验鉴定工作,提供具有立体视觉效果的高清观察与数字化记录解决方案。该设备通过光电转换技术,将显微观察过程从传统的目视模式扩展至计算机屏幕实时显示,实现了对检材立体形貌的观察、分析、图像捕获与编辑一体化,是提升司法鉴定工作标准化、数字化水平及检验过程可追溯性的关键装备。

2. 技术原理
该设备基于格林诺普式光学系统,通过独立的光路为左右两眼提供具有视差的图像,从而在观察者大脑中融合成立体感强烈的三维影像。在此基础上,设备集成了高清数字图像传感器(CMOS/CCD),通过分光棱镜或专用接口,将其中一路(或一路经处理)的光学图像实时转换为数字信号,经由高速USB2.0接口传输至计算机。计算机端的专用软件可对动态视频流进行解码、显示、拍照、录像、测量及图像增强处理,实现光学观察与数字化取证的无缝衔接。

3. 主要功能特点

  • 立体观察与高清数字化同步:在提供7X至45X连续变倍、具有真实三维感的目视观察的同时,集成了1280x1024高分辨率数码摄像系统,可在计算机屏幕上同步呈现清晰的实时动态显微图像,便于多人同时研判、教学演示及证据固定。

  • 强大的图像处理与取证记录能力:配合专用软件,支持对动态观察过程进行录像,对关键特征进行高分辨率拍照,并可对图像进行编辑、标注、测量(需软件支持)、存储和打印,生成符合司法鉴定规范要求的电子化检验记录与报告附件。

  • 长工作距离与灵活照明:提供长达100mm的工作距离,为操作镊子、探针等工具进行原位取样、翻转或测量留有充足空间。底座集成上下双LED光源,亮度连续可调,可灵活选择透射光或反射光照明模式,以适应不同材质和类型的检材观察需求。

  • 人性化结构与操作便捷性:采用45°倾斜观察头与J3立臂式底座,符合人体工学,减少长时间观察的疲劳。瞳距可调(55-75mm),变倍操作平滑。摄像系统由USB直接供电,无需额外电源,系统集成度高,部署快速。

4. 在刑事侦查与司法鉴定技术中的应用

  • 工具痕迹检验鉴定:用于观察和记录钳剪、撬压、打击等工具在金属、木材、塑料上遗留痕迹的立体形貌,如线条的连贯性、凹陷的起止缘形态、金属屑的分布等,为判断工具种类、分析作用方式及进行同一认定提供直接的图像依据。

  • 文件检验与印章印文比对:对可疑文件上的印章印文、印刷文字、手写笔画的交叉顺序、朱墨时序进行立体显微检验,观察墨水、印油的堆积、覆盖、洇散等三维特征,判断形成次序,鉴别伪造变造。

  • 微量物证与法医物证初步检验:对案件中提取的纤维、毛发、土壤颗粒、植物碎片、射击残留物(GSR)等进行立体形态观察、分类和初步筛选,并可进行显微拍照固定其原始状态,为后续的理化分析提供目标和样本记录。

  • 电子元件与锁具痕迹检验:适用于对涉电案件中的微小型电子元件焊点、PCB板线路,或盗窃案件中被破坏锁具的内部弹子、叶片等机件状态进行无损的立体观察和取证。

5. 主要技术参数

  • 光学系统

    • 观察头:45°倾斜,瞳距调节55-75mm

    • 目镜:WF10X,视场直径20mm

    • 物镜变倍范围:0.7X – 4.5X

    • 总光学放大倍数:7X – 45X

    • 工作距离:100 mm

  • 数码成像系统

    • 传感器分辨率:1280 (H) × 1024 (V) 像素

    • 像元尺寸:5.2μm × 5.2μm

    • 最大帧率:16 fps @ 1280×1024

    • 信噪比:1.8 V/lux-sec @ 550nm

    • 扫描方式:逐行扫描

    • 数据接口:USB 2.0 (480 Mbps)

  • 照明系统:上下双LED照明,亮度可调。

  • 机械结构:J3立臂式底座,镜体接口孔径Φ76mm。

  • 电源

    • 主机:AC 220V / DC 6V

    • 摄像系统:USB总线供电

  • 工作环境:工作温度 0°C 至 50°C。

  • 软件兼容性:支持Windows操作系统。

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