产品名称：同轴光高清数码单筒显微镜（立体痕迹与文件微观特征检验专用设备）
产品概述
本同轴光高清数码单筒显微镜，是一款专为司法鉴定领域中工具痕迹深度检验与文件微观特征精密分析而设计的高分辨率专业成像设备。其核心采用同轴光照明技术与高精度连续变倍光学系统，能够有效消除金属、漆面等高反光材质表面的眩光干扰，清晰、真实地还原立体痕迹的微观形貌与层次信息。设备兼具高像素静态捕捉与动态录像能力，是进行工具痕迹同一认定、文件真伪鉴别及各类微区形态学检验的关键技术鉴定仪器。
功能特点
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同轴光照明，凸显立体痕迹真实形貌：集成先进的同轴光路设计，光线沿观察轴线垂直照射检材表面。此技术能有效抑制非垂直反射的杂散光，极大减弱高反光表面（如金属工具、弹壳、光滑纸张）的镜面眩光，使凹陷、擦划、击打等立体痕迹的轮廓、坡度、底部特征得以清晰、无失真地呈现，为精准测量与比对奠定基础。
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高分辨率成像与连续无缝变倍：搭载1/2.5英寸高性能传感器，支持最高500万像素（2592x1944）的静态图像采集，能记录极其细微的特征细节。光学系统提供0.28X至2X的连续变倍，结合数字预览放大，可实现19倍至540倍的宽范围综合倍率连续调节，满足从快速搜寻定位到高倍精细观察的全流程需求。
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稳定精密调焦与大范围观测适配：配备精密调焦托架与手轮，提供总计达280毫米的调焦范围，允许灵活适配不同厚度与高度的检材。固定的105毫米物距结合可变的观测范围（2.15x2.86mm至15.3x20.4mm），确保在观察各类尺寸的痕迹、印章、印刷文字时，既能获得整体概览，又能深入局部细节。
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一体化数字集成与便捷操作：通过标准USB接口进行供电与数据传输，集成度高，连接简便。兼容DirectShow协议，可便捷接入专业分析软件。支持高分辨率拍照（JPEG）与实时录像（AVI/MJPG），实现检验过程的完整数字化记录与证据固定。
主要技术参数
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成像核心：1/2.5英寸彩色传感器，最高分辨率2592 x 1944（500万像素）；光谱响应范围380-650nm。
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光学性能：光学倍率0.28X-2X连续变倍；固定物距105mm；观测范围2.15x2.86mm ~ 15.3x20.4mm连续可调；综合倍率19-135倍（预览放大时可达76-540倍）。
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机械调焦：调焦托架升降范围230mm；调焦手轮微调范围50mm。
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记录与接口：支持拍照与录像（MJPG/AVI格式）；软件接口为DirectShow；通过USB口提供5V直流供电。
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环境适应性：工作温度0℃-40℃；工作湿度10%-60% RH（无冷凝）。
在刑事技术与司法鉴定中的应用
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工具痕迹司法鉴定：尤其适用于检验在金属、塑料、木材等材质上形成的撬压、剪切、擦划、撞击痕迹。同轴光能清晰展现痕迹底部的加工纹路、磨损特征及附着物，为工具的作用方式分析、种类判断和至关重要的同一认定鉴定提供无可替代的高清图像证据。
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文件检验与防伪技术鉴定：用于高精度检验印章印文的图文细节、盖印压力分布；分析笔迹的墨水流布、笔画交叉顺序；鉴别印刷品的网点、套版特征；观察安全线、纤维丝、OVI光变油墨等防伪要素的微观结构，是鉴别文件真伪、判断变造事实的核心设备。
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枪弹及其他痕迹检验：观察弹头、弹壳上弹底窝痕迹、膛线痕迹的微观特征，以及锁具、玻璃等客体上的破坏痕迹。其高分辨率和立体还原能力，有助于发现和记录传统方法难以清晰呈现的细微特征。
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微量物证形态学分析：对纤维横截面、油漆分层、金属断口、土壤矿物颗粒等微量物证进行表面形貌与结构的高清观测，辅助种类识别和溯源分析。
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电子取证与芯片检验：在无需破坏封装的情况下，对电路板、芯片表面的细微刻字、加工痕迹进行观察，辅助产品溯源或异常发现。
本设备由专业刑事技术装备与司法鉴定仪器制造商北京毕思特联合科技有限公司研发提供。其独特的同轴光照明系统与高分辨率成像能力，旨在精准解决立体痕迹检验中的眩光难题，为工具痕迹学鉴定、文件检验技术等专业领域提供客观、清晰、可靠的显微影像解决方案，有力支撑司法鉴定工作的科学性与权威性。